800cc全讯白菜网主站(以下简称“全讯白菜网”)面向集成电路材料研发共性问题,建设开放性的集成电路材料应用研发平台,提供集成电路核心材料与部件”研发+检测+验证+计算“的一体化服务。 截至2025年2月,全讯白菜网已具备CNAS、CMA、ISO9001、ISO27001等多项资质,累计服务客户数65家,累计订单金额约1.3亿。
服务内容
✅ 抛光材料服务能力
✅ 光刻材料服务能力
✅ 湿化学品服务能力
✅ 薄膜材料服务能力
✅ 包装材料服务能力
点击以上文字了解详情
抛光材料服务能力
全讯白菜网可提供抛光材料从性能检测到应用验证的全流程服务,包括抛光垫、抛光液等材料的性能测试、工艺验证与开发、材料设计仿真等,有效降低抛光材料研发时间及成本。
抛光材料检测分析
测试材料 | 测试服务 | 测试设备 |
抛光垫 | 抛光垫分层情况 | 扫描电镜 |
微观结构表征 | 扫描电镜 | |
表⾯情况 | 扫描电镜 | |
孔洞分布大小 | 扫描电镜 | |
微观结构 | 扫描电镜 | |
孔隙率 | 光学轮廓仪 | |
孔径分布 | 光学轮廓仪 | |
孔深情况 | 光学轮廓仪 | |
化学键与官能团 | FTIR | |
玻璃化转变温度 | TGA+DSC | |
熔融、结晶 | TGA+DSC | |
分子结构 | 热裂解+GC-MS | |
抛光液 | 金杂 | ICPOES |
阴离子 | 离子色谱IC | |
表面张力 | 接触角分析仪 | |
色度 | 色度仪 | |
pH值 | pH计 | |
密度 | 密度计/天平 | |
固含量 | 固含量测试仪 | |
颗粒粒径 | Zeta电位仪 | |
Zeta电位值 | Zeta电位仪 |
抛光材料应用验证
工艺验证项目 | 抛光垫 | 抛光液 | 抛光部件 |
抛光速率测试 | ✔ | ✔ | ✔ |
抛后平坦度测试 | ✔ | ✔ | ✔ |
抛后金杂及颗粒测试 | ✔ | ✔ | ✔ |
抛后表面粗糙度测试 | ✔ | ✔ | ✔ |
马拉松测试 | ✔ | n.a | ✔ |
工艺开发 | ✔ | ✔ | ✔ |
华海清科 Universal-300 X:用于12寸半导体集成电路硅、氧化物、金属(W/Co/Cu) 等产品的平坦化抛光
设备类型 | 设备型号 | 功 能 |
抛光 | 华海清科 Universal-300X | 12寸半导体集成电路硅、氧化物、金属(W/Co/Cu)等产品的平坦化抛光 |
华海清科 Universal-200 Plus | 8寸半导体集成电路硅、氧化物、金属(W/Co/Cu)等产品的平坦化抛光 | |
硅厚量测 | KLA-WS2+ | 平坦度量测、厚度量测 |
膜厚量测 | 中科飞测LATI900 | 厚度量测、均一性 |
形貌量测 | 中科飞测-U950 | Dishing高度 |
KLA台阶仪 | Dishing高度、表面粗糙度 | |
颗粒检测 | KLA-SP3 中科飞测S750 | 颗粒粒径、颗粒分布、颗粒计数 |
金属离子污染测试 | Rigaku-TXRF310 | 晶圆表面无损金属污染测试,可指定测试点位 |
金属污染测试 | VPD(PVA-WSPS2)+ICP-MS(安捷伦8900) | 整个硅片表面、矩形、圆形等多种采样方式,可单独量测正面边缘区域 |
抛光材料计算
拥有针对抛光材料的宏观及微观计算仿真模型,可解决全局平坦度、局部平坦度、边缘平坦度等各类平坦化问题。
○ 抛光液磨料、配方设计
计算磨料、抛光液吸附、扩散过程,预测抛光液对抛光速率、平坦度影响
○ 抛光垫设计
仿真抛光垫接触过程,建立抛光垫沟槽布局、孔隙率、物性对磨料运动、抛光去除率影响关系
○ 抛光组件设计
仿真抛光过程流场分布,建立保持环、修整器、工艺与平坦度关系
序号 | 建模能力 |
1 | 掺杂磨料反应性计算 |
2 | 磨料官能团极性、还原性计算 |
3 | 抛光液螯合剂螯合能计算 |
4 | 抛光液增速剂吸附反应速率计算 |
5 | 抛光液平坦度调节剂吸附计算 |
6 | 抛光液体系粘度预测 |
7 | 抛光液聚合物表面保护剂溶度参数计算 |
8 | 抛光液接触角计算 |
9 | 抛光垫弹性模量预测 |
10 | 抛光垫表面微观结构分析 |
11 | 抛光垫沟槽设计 |
12 | 保持环结构设计 |
13 | 修整器颗粒设计 |
14 | 抛光头分区设计 |
15 | 游星轮结构优化 |
16 | 修盘工艺开发 |
17 | 抛光压力、转速、流量开发优化设计 |
光刻材料服务能力
全讯白菜网可提供光刻材料从性能检测到应用验证的全流程服务,包括树脂、单体、溶剂等材料的性能测试、定制化成分分析、光刻工艺验证与开发、光刻材料设计仿真等,有效降低光刻材料研发时间及成本。
光刻材料检测分析
材料 | 测试服务 | 测试设备 |
树脂 | 分子量与分布 | GPC |
分子官能团分析 | FTIR | |
紫外吸收及含量分析 | 紫外可见分光光度计 | |
热分解温度 | TGA | |
玻璃化转变温度 | DSC | |
金属离子测试 | ICP-MS | |
阴离子测试 | 离子色谱IC | |
分子结构分析 | NMR | |
大分子结构分析 | MALDI-TOF | |
水分测试 | 卡尔费休水分仪 | |
有机物含量测试 | UPLC | |
成分分析 | PY-GCMS | |
颜色 | 色度计 | |
有机物单体溶剂 | 金属元素及含量 | ICP-MS |
阴离子测试 | 离子色谱IC | |
颗粒度 | LPC | |
水分测试 | 卡尔费休水分仪 | |
低沸点有机物测试 | GCMS | |
含量测试 | 气相gc | |
高沸点有机物测试 | UPLC | |
光刻胶材料 | 金属杂质 | ICP-MS |
颗粒度 | LPC | |
含水率 | 卡尔费休水分仪 | |
粘度 | Brookfield旋转粘度计 | |
色度 | 色度计 | |
固含量 | 固含量测试仪 | |
表面张力 | 接触角分析仪 | |
分离纯化 | 分离层析柱 | |
图谱综合解析 | NMR,FTIR,PY-GCMS,GPC、DSC、TGA、MALDI-TOF等 |
光刻材料计算
○ 光刻胶材料理化性质预测
√ 聚集态结构
√ 脱保护反应活性
√ 光吸收和折射率
√ 溶度参数
√ 玻璃化转变温度
√ 表面张力
√ 粘度
……
针对关键理化性质建立构效关系模型,提供材料性能的初步评估
○ 光刻胶工艺过程仿真
面向光刻胶应用性能(CD、LER、光敏性),提供树脂结构和光刻胶配方的设计方案。
内容 | 项目 | 方法 |
性质预测 | 单体聚合反应活性、竞聚率预测 | 量子化学计算 |
数学树脂材料密度和微观结构分析 | 分子动力学模拟 | |
光吸收系数、折射率预测 | 量子化学计算、人工智能 | |
树脂脱保护反应活性预测 | 量子化学计算 | |
树脂中小分子添加剂扩散分析 | 分子动力学模拟 | |
Hildebrand和Hansen溶度参数预测 | 分子动力学模拟 | |
体系粘度预测 | 分子动力学模拟 | |
树脂表界面性质(粘附功、表面张力等) | 分子动力学模拟 | |
树脂玻璃化转变温度预测 | 分子动力学模拟 人工智能 | |
树脂热膨胀系数预测 | 分子动力学模拟 | |
树脂弹性模量预测 | 分子动力学模拟 | |
工艺仿真 | 共聚合反应动力学和产物链组成分布预测 | 动力学蒙特卡罗模拟、人工智能 |
光刻曝光工艺仿真 | 光学计算 | |
光刻曝光后烘工艺仿真 | 动力学蒙特卡罗模拟 | |
光刻显影过程定性分析 | 蒙特卡罗模拟 |
湿电子化学品材料服务能力
全讯白菜网可提供湿电子化学品从性能检测到应用验证的全流程服务,可针对通用化学品和功能性化学品,包括DIW、IPA、HF、HCl、HNO₃、H₂SO₄、H₃PO₄、H₂O₂等,提供理化性能测试、定制化成分分析、刻蚀工艺验证等服务。
湿电子化学品检测分析
序号 | 测试项目 | 测试设备 |
1 | 金杂 | ICP-MS |
2 | 阴、阳离子 | 离子色谱IC |
3 | 液体颗粒 | LPC |
4 | 总硅测试 | ICP-OES |
5 | 表面张力 | 接触角分析仪表面张力 |
6 | TOC | 总有机碳分析仪 |
7 | 主成分测试 | 电位滴定仪 |
8 | 色度 | 色度计 |
9 | pH值 | pH计 |
10 | 固含量 | 固含量测试仪 |
湿电子化学品材料计算
○ 电镀液、清洗液材料结构、配方设计
模拟计算配方化学品吸附、疏水等理化性质,设计材料配体、官能团、配比
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○ 电镀、清洗工艺仿真
模拟电镀、清洗等工艺过程,评价材料不同配方组分的工艺表现
序号 | 建模能力 |
1 | 清洗液螯合剂螯合能计算 |
2 | 清洗液添加剂亲电亲核指数计算 |
3 | 清洗液表面活性剂表面亲疏水性HLB计算 |
4 | 清洗液表面活性剂表面吸附过程计算 |
5 | 电镀添加剂吸附过程仿真模型 |
6 | 电镀填充过程仿真模型 |
7 | 清洗过程刷子刷洗过程工艺仿真 |
8 | 电化学反应过程的动力学 |
9 | 电化学反应过程的质量传递 |
10 | 反应动力学和质量传递对电镀填充效果的影响 |
湿法刻蚀工艺研发
○ 电子化学品湿法工艺研发验证
建立了电子化学品湿法工艺研发验证平台,通过硅的去除,实现硅浓度控制。
除硅材料样品
ICP-OES分析磷酸中硅浓度
槽式设备应用示意图
√ 通过自主研发的过滤器可高选择性去除刻蚀产物硅化合物。
√ 温度和流量的控制可控制硅化合物的去除量,将循环体系中的硅浓度在极窄的范围内波动(±2.5ppm)。
√ 提供了满足刻蚀选择比及Si浓度控制需求的平台验证能力。
薄膜材料服务能力
全讯白菜网可针对前驱体、靶材等薄膜材料,提供检测分析、应用验证和材料计算的一体化服务,有效提高薄膜材料研发效率。
薄膜材料检测分析
细分领域 | 检测项目 | 测试设备 |
靶材 (PVD) | 纯度 | GDMS |
杂质和主成分 | ICP-OES | |
氧氮氢元素含量 | 氧氮氢分析仪 | |
硬度 | 硬度计 | |
内部结构 | 金相显微镜 | |
显微组织结构 | SEM+EDS+EBSD | |
粗糙度 | 光学轮廓仪 | |
表面组分 | XPS | |
电阻率 | 4PP | |
膜厚 | SEM | |
膜厚/薄膜的微观形貌图像 | AFM | |
前驱体 (ALD) | 杂质和主成分 | ICP-MS |
杂质和主成分 | ICP-OES | |
离子色谱 | 离子色谱IC | |
电位滴定仪 | 硬度计 | |
核磁 | NMR | |
表面组分 | XPS | |
膜厚 | SEM | |
ALD薄膜结构 | XRD | |
膜厚/薄膜的微观形貌图像 | AFM |
薄膜材料工艺研发
全讯白菜网自主研发8英寸全晶圆高通量ALD-PVD-XPS设备(HTC),实现薄膜材料高通量制备及原位表征。
TDS -thermal desorption spectroscopy:
√ 红外直接加热样品:本底最小化,提升灵敏度
√ 超高真空环境:低于10-7Pa
√ 宽温度范围:50°C-1200°C
服务能力:
√ 水,氢,氧,二氧化碳等脱附气体的极微量检测
√ 测量半导体衬底以及各种薄膜样品的理想选择
主要包括以下应用:
√ 晶圆表面(Si 衬底、玻璃衬底、SiC 衬底等)的有机和无机污染评估
√ 薄膜(氧化膜、氮化物膜、金属膜、光刻胶膜等)中的水分评估
√ 残留沉积气体的调查(由沉积材料和沉积环境引起的)
√ 清洁和刻蚀工艺残留物的检测分析
√ 膜剥落和肿胀等异常原因的检测分析
√ 有机薄膜的退火温度评估
√ 各种材料(包装和粘合剂)的脱气研究
√ H2 的解吸等
薄膜材料材料计算
面向设备厂商,通过机台结构设计、配套耗材筛选和工艺仿真,提供耗材优化设计、工艺筛选服务
序号 | 建模能力 |
1 | 前驱体热稳性计算 |
2 | 前驱体自限反应性计算 |
3 | 前驱体熔点计算 |
4 | 前驱体粘度计算 |
5 | 源瓶结构设计与优化 |
6 | 物质输送及温度仿真 |
7 | 薄膜沉积工艺仿真 |
8 | 等离子体放电、产生过程仿真 |
包装材料服务能力
800cc全讯白菜网主站包装材料检测分析服务,致⼒于解决包装材料⽣产商及应⽤商在实际⽣产⼯艺中,对FOSB、FOUP等晶圆载具及其他包装材料的检测需求。
包装材料检测分析
序号 | 测试项目 | 测试设备 |
1 | 密度 | 密度天平 |
2 | 硬度 | 硬度计 |
3 | 拉伸强度、断裂伸长率 | 万能试验机 |
4 | 热变形温度 | 维卡软化点 |
5 | 透光率 | 紫外分光光度计 |
6 | 吸水性 | 天平/干燥器/高低温湿热试验箱 |
7 | 粗糙度 | 表面轮廓仪 |
8 | 摩擦系数 | 摩擦系数仪 |
9 | 主成分定性 | FTIR/Py-GCMS |
10 | 抗静电性能测试 | 表面电阻计 |
11 | 抗静电性能测试 | 表面电阻计 |
12 | 抗静电性能测试 | 表面电阻计 |
13 | 阳离子污染物 | ICP-MS |
14 | 阴离子污染物 | 离子色谱 |
15 | 颗粒污染 | 液体颗粒计数器 |
16 | 密闭性 | 氦气检漏仪 |
17 | 洁净度 | 尘埃粒子计数器 |
18 | 挥发性有机污染物 | PTR-TOF |
19 | 耐摔性 | 跌落试验机 |
20 | 防震水平 | 模拟运输振动试验机 |
21 | 耐高低温 | 高低温湿热试验箱 |
22 | particle产生可能性 | Sorter机台颗粒测试机台 |
23 | 晶圆颗粒污染 | 中科飞测颗粒测试机台 |
零部件服务能力
全讯白菜网拥有工业CT、GCMS、ICPMS、FIB、SEM、AFM等设备,可针对陶瓷、金属零部件,石墨零部件,含氟高分子零部件等,提供基础物性分析、成分分析、杂质分析、缺陷分析、热分析、应用分析等检测服务。
零部件检测分析
序号 | 测试项目 | 测试设备 |
1 | 密度 | 密度天平 |
2 | 硬度 | 肖氏硬度计 维氏硬度计 |
3 | 颜色 | 色度仪 |
4 | 力学性能 | 拉力试验机 |
5 | 热导率/比热 | DSC |
热导仪 | ||
6 | 热膨胀系数 | 热膨胀计 |
7 | 表面粗糙度 | 光学轮廓仪 |
8 | 表面粗糙度压电系数相位,薄膜微区 导电分析薄膜力学性能 | AFM |
9 | 电阻率绝缘电阻 | 4PP |
10 | 相对介电常数介电损耗 | 介电常数测试系统 |
11 | 金属金相分析 显微结构分析 | 金相显微镜 |
12 | 显微结构分析 表面成分分析 晶相及比例分析 | SEM+EBSD +EDS |
13 | TEM制样,样品 截面观察分析 | FIB |
14 | 材料(含薄膜) 结晶相分析及相 比例分析 | XRD |
15 | 零部件结构尺寸 | 工业CT |
16 | 三维尺寸 | 螺旋测微计 |
17 | 三维尺寸 | 光学轮廓仪 |
18 | 材料体相或表 面金属元素含量 | ICP-OES |
19 | 材料体相或表 面金属元素含量 | ICP-MS |
20 | 无机材料体相金 属杂质含量分析 | GDMS |
21 | 表面金属元素含量 | XRF |
22 | 表面金属元素含量 | XPS |
23 | 表面金属元素含量 | VPD-ICPMS |
24 | 硅片C,O含量 分析 | FTIR |
25 | ONH ,CS含量 | 气体元素分析仪 |
26 | 灰分测试,试剂烧灼残留分析 | 灰分炉 |
27 | 硅片及薄膜中气体元素分析 | TDS |
28 | 无机基团分析(OH-,SO4^2-等) | FTIR |
29 | 耐磨性 | 磨耗仪 |
30 | 耐酸碱腐蚀 | 密度天平 |
31 | 抗析晶分析,零部件耐热冲击 | 马弗炉 |
32 | 金属析出 | ICP-MS |
33 | 颗粒析出 | 颗粒计数器 |
联系我们
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联系人:周老师
邮箱:stella.zhou@sicm.com.cn
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