研发服务

研发服务

应用研发平台能力一览

800cc全讯白菜网主站(以下简称“全讯白菜网”)面向集成电路材料研发共性问题,建设开放性的集成电路材料应用研发平台,提供集成电路核心材料与部件”研发+检测+验证+计算“的一体化服务。


截至2025年2月,全讯白菜网已具备CNASCMA、ISO9001、ISO27001等多项资质,累计服务客户数65家,累计订单金额约1.3亿。



服务内容


✅   抛光材料服务能力

✅   光刻材料服务能力

✅   湿化学品服务能力

✅   薄膜材料服务能力

✅   包装材料服务能力

   ✅   零部件材料服务能力


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点击以上文字了解详情


抛光材料服务能力



全讯白菜网可提供抛光材料从性能检测到应用验证的全流程服务,包括抛光垫、抛光液等材料的性能测试、工艺验证与开发、材料设计仿真等,有效降低抛光材料研发时间及成本。


抛光材料检测分析

测试材料

测试服务

测试设备

抛光垫

抛光垫分层情况

扫描电镜

微观结构表征

扫描电镜

表⾯情况

扫描电镜

孔洞分布大小

扫描电镜

微观结构

扫描电镜

孔隙率

光学轮廓仪

孔径分布

光学轮廓仪

孔深情况

光学轮廓仪

化学键与官能团

FTIR

玻璃化转变温度

TGA+DSC

熔融、结晶

TGA+DSC

分子结构

热裂解+GC-MS

抛光液

金杂

ICPOES

阴离子

离子色谱IC

表面张力

接触角分析仪

色度

色度仪

pH值

pH计

密度

密度计/天平

固含量

固含量测试仪

颗粒粒径

Zeta电位仪

Zeta电位值

Zeta电位仪


抛光材料应用验证

工艺验证项目

抛光垫

抛光液

抛光部件

抛光速率测试

抛后平坦度测试

抛后金杂及颗粒测试

抛后表面粗糙度测试

马拉松测试

n.a

工艺开发


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华海清科 Universal-300 X:用于12寸半导体集成电路硅、氧化物、金属(W/Co/Cu) 等产品的平坦化抛光


设备类型

设备型号

功    能

抛光

华海清科 Universal-300X

12寸半导体集成电路硅、氧化物、金属(W/Co/Cu)等产品的平坦化抛光

华海清科 Universal-200 Plus

8寸半导体集成电路硅、氧化物、金属(W/Co/Cu)等产品的平坦化抛光

硅厚量测

KLA-WS2+

平坦度量测、厚度量测

膜厚量测

中科飞测LATI900

厚度量测、均一性

形貌量测

中科飞测-U950

Dishing高度

KLA台阶仪

Dishing高度、表面粗糙度

颗粒检测

KLA-SP3

中科飞测S750

颗粒粒径、颗粒分布、颗粒计数

金属离子污染测试

Rigaku-TXRF310

晶圆表面无损金属污染测试,可指定测试点位

金属污染测试

VPD(PVA-WSPS2)+ICP-MS(安捷伦8900)

整个硅片表面、矩形、圆形等多种采样方式,可单独量测正面边缘区域


抛光材料计算

拥有针对抛光材料的宏观及微观计算仿真模型,可解决全局平坦度、局部平坦度、边缘平坦度等各类平坦化问题。


  抛光液磨料、配方设计

计算磨料、抛光液吸附、扩散过程,预测抛光液对抛光速率、平坦度影响


  抛光垫设计

仿真抛光垫接触过程,建立抛光垫沟槽布局、孔隙率、物性对磨料运动、抛光去除率影响关系


  抛光组件设计

仿真抛光过程流场分布,建立保持环、修整器、工艺与平坦度关系


序号

建模能力

1

磨料反应性计算

2

磨料官能团极性、还原性计算

3

抛光液螯合剂螯合能计算

4

抛光液增速剂吸附反应速率计算

5

抛光液平坦度调节剂吸附计算

6

抛光液体系粘度预测

7

抛光液聚合物表面保护剂溶度参数计算

8

抛光液接触角计算

9

抛光垫弹性模量预测

10

抛光垫表面微观结构分析

11

抛光垫沟槽设计

12

保持环结构设计

13

修整器颗粒设计

14

抛光头分区设计

15

游星轮结构优化

16

修盘工艺开发

17

抛光压力、转速、流量开发优化设计


光刻材料服务能力




全讯白菜网可提供光刻材料从性能检测到应用验证的全流程服务,包括树脂单体溶剂等材料的性能测试、定制化成分分析、光刻工艺验证与开发、光刻材料设计仿真等,有效降低光刻材料研发时间及成本。


光刻材料检测分析

材料

测试服务

测试设备

树脂

分子量与分布

GPC

分子官能团分析

FTIR

紫外吸收及含量分析

紫外可见分光光度计

热分解温度

TGA

玻璃化转变温度

DSC

金属离子测试

ICP-MS

阴离子测试

离子色谱IC

分子结构分析

NMR

大分子结构分析

MALDI-TOF

水分测试

卡尔费休水分仪

有机物含量测试

UPLC

成分分析

PY-GCMS

颜色

色度计

有机物单体溶剂

金属元素及含量

ICP-MS

阴离子测试

离子色谱IC

颗粒度

LPC

水分测试

卡尔费休水分仪

低沸点有机物测试

GCMS

含量测试

气相gc

高沸点有机物测试

UPLC

光刻胶材料

金属杂质

ICP-MS

颗粒度

LPC

含水率

卡尔费休水分仪

粘度

Brookfield旋转粘度计

色度

色度计

固含量

固含量测试仪

表面张力

接触角分析仪

分离纯化

分离层析柱

图谱综合解析

NMR,FTIR,PY-GCMS,GPC、DSC、TGA、MALDI-TOF等


光刻材料计算


  光刻胶材料理化性质预测

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  • √ 聚集态结构

  • √ 脱保护反应活性

  • √ 光吸收和折射率

  • √ 溶度参数

  • √ 玻璃化转变温度

  • √ 表面张力

  • √ 粘度

  • ……


针对关键理化性质建立构效关系模型,提供材料性能的初步评估


  光刻胶工艺过程仿真

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面向光刻胶应用性能(CD、LER、光敏性),提供树脂结构和光刻胶配方的设计方案。


内容

项目

方法

性质预测

单体聚合反应活性、竞聚率预测

量子化学计算

数学树脂材料密度和微观结构分析

分子动力学模拟

光吸收系数、折射率预测

量子化学计算、人工智能

树脂脱保护反应活性预测

量子化学计算

树脂中小分子添加剂扩散分析

分子动力学模拟

Hildebrand和Hansen溶度参数预测

分子动力学模拟

体系粘度预测

分子动力学模拟

树脂表界面性质(粘附功、表面张力等)

分子动力学模拟

树脂玻璃化转变温度预测

分子动力学模拟

人工智能

树脂热膨胀系数预测

分子动力学模拟

树脂弹性模量预测

分子动力学模拟

工艺仿真

共聚合反应动力学和产物链组成分布预测

动力学蒙特卡罗模拟、人工智能

光刻曝光工艺仿真

光学计算

光刻曝光后烘工艺仿真

动力学蒙特卡罗模拟

光刻显影过程定性分析

蒙特卡罗模拟

湿电子化学品材料服务能力




全讯白菜网可提供湿电子化学品从性能检测到应用验证的全流程服务,可针对通用化学品功能性化学品,包括DIW、IPA、HF、HCl、HNO₃、H₂SO₄、H₃PO₄、H₂O₂等,提供理化性能测试、定制化成分分析、刻蚀工艺验证等服务。


湿电子化学品检测分析

序号

测试项目

测试设备

1

金杂

ICP-MS

2

阴、阳离子

离子色谱IC

3

液体颗粒

LPC

4

总硅测试

ICP-OES

5

表面张力

接触角分析仪表面张力

6

TOC

总有机碳分析仪

7

主成分测试

电位滴定仪

8

色度

色度计

9

pH值

pH计

10

固含量

固含量测试仪

湿电子化学品材料计算


  电镀液、清洗液材料结构、配方设计

模拟计算配方化学品吸附、疏水等理化性质,设计材料配体、官能团、配比

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  电镀、清洗工艺仿真

模拟电镀、清洗等工艺过程,评价材料不同配方组分的工艺表现

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序号

建模能力

1

清洗液螯合剂螯合能计算

2

清洗液添加剂亲电亲核指数计算

3

清洗液表面活性剂表面亲疏水性HLB计算

4

清洗液表面活性剂表面吸附过程计算

5

电镀添加剂吸附过程仿真模型

6

电镀填充过程仿真模型

7

清洗过程刷子刷洗过程工艺仿真

8

电化学反应过程的动力学

9

电化学反应过程的质量传递

10

反应动力学和质量传递对电镀填充效果的影响


湿法刻蚀工艺研发


  电子化学品湿法工艺研发验证

建立了电子化学品湿法工艺研发验证平台,通过硅的去除,实现硅浓度控制。


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除硅材料样品

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ICP-OES分析磷酸中硅浓度


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槽式设备应用示意图


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  • √ 通过自主研发的过滤器可高选择性去除刻蚀产物硅化合物。

  • √ 温度和流量的控制可控制硅化合物的去除量,将循环体系中的硅浓度在极窄的范围内波动(±2.5ppm)。

  • √ 提供了满足刻蚀选择比及Si浓度控制需求的平台验证能力。


薄膜材料服务能力




全讯白菜网可针对前驱体靶材等薄膜材料,提供检测分析、应用验证和材料计算的一体化服务,有效提高薄膜材料研发效率。

薄膜材料检测分析

细分领域

检测项目

测试设备

靶材

(PVD)

纯度

GDMS

杂质和主成分

ICP-OES

氧氮氢元素含量

氧氮氢分析仪

硬度

硬度计

内部结构

金相显微镜

显微组织结构

SEM+EDS+EBSD

粗糙度

光学轮廓仪

表面组分

XPS

电阻率

4PP

膜厚

SEM

膜厚/薄膜的微观形貌图像

AFM

前驱体

(ALD)

杂质和主成分

ICP-MS

杂质和主成分

ICP-OES

离子色谱

离子色谱IC

电位滴定仪

硬度计

核磁

NMR

表面组分

XPS

膜厚

SEM

ALD薄膜结构

XRD

膜厚/薄膜的微观形貌图像

AFM


薄膜材料工艺研发

全讯白菜网自主研发8英寸全晶圆高通量ALD-PVD-XPS设备(HTC),实现薄膜材料高通量制备及原位表征。


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TDS -thermal desorption spectroscopy

  • √ 红外直接加热样品:本底最小化,提升灵敏度

  • √ 超高真空环境:低于10-7Pa

  • √ 宽温度范围:50°C-1200°C

服务能力:


  • √ 水,氢,氧,二氧化碳等脱附气体的极微量检测

  • √ 测量半导体衬底以及各种薄膜样品的理想选择

主要包括以下应用:


  • √ 晶圆表面(Si 衬底、玻璃衬底、SiC 衬底等)的有机和无机污染评估

  • √ 薄膜(氧化膜、氮化物膜、金属膜、光刻胶膜等)中的水分评估

  • √ 残留沉积气体的调查(由沉积材料和沉积环境引起的)

  • √ 清洁和刻蚀工艺残留物的检测分析

  • √ 膜剥落和肿胀等异常原因的检测分析

  • √ 有机薄膜的退火温度评估

  • √ 各种材料(包装和粘合剂)的脱气研究

  • √ H2 的解吸等


薄膜材料材料计算

面向设备厂商,通过机台结构设计、配套耗材筛选和工艺仿真,提供耗材优化设计、工艺筛选服务


序号

建模能力

1

前驱体热稳性计算

2

前驱体自限反应性计算

3

前驱体熔点计算

4

前驱体粘度计算

5

源瓶结构设计与优化

6

物质输送及温度仿真

7

薄膜沉积工艺仿真

8

等离子体放电、产生过程仿真


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包装材料服务能力




800cc全讯白菜网主站包装材料检测分析服务,致⼒于解决包装材料⽣产商及应⽤商在实际⽣产⼯艺中,对FOSBFOUP等晶圆载具及其他包装材料的检测需求。


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包装材料检测分析

序号

测试项目

测试设备

1

密度

密度天平

2

硬度

硬度计

3

拉伸强度、断裂伸长率

万能试验机

4

热变形温度

维卡软化点

5

透光率

紫外分光光度计

6

吸水性

天平/干燥器/高低温湿热试验箱

7

粗糙度

表面轮廓仪

8

摩擦系数

摩擦系数仪

9

主成分定性

FTIR/Py-GCMS

10

抗静电性能测试

表面电阻计

11

抗静电性能测试

表面电阻计

12

抗静电性能测试

表面电阻计

13

阳离子污染物

ICP-MS

14

阴离子污染物

离子色谱

15

颗粒污染

液体颗粒计数器

16

密闭性

氦气检漏仪

17

洁净度

尘埃粒子计数器

18

挥发性有机污染物

PTR-TOF

19

耐摔性

跌落试验机

20

防震水平

模拟运输振动试验机

21

耐高低温

高低温湿热试验箱

22

particle产生可能性

Sorter机台颗粒测试机台

23

晶圆颗粒污染

中科飞测颗粒测试机台


零部件服务能力




全讯白菜网拥有工业CT、GCMS、ICPMS、FIB、SEM、AFM等设备,可针对陶瓷金属零部件石墨零部件含氟高分子零部件等,提供基础物性分析、成分分析、杂质分析、缺陷分析、热分析、应用分析等检测服务。


零部件检测分析

序号

测试项目

测试设备

1

密度

密度天平

2

硬度

肖氏硬度计

维氏硬度计

3

颜色

色度仪

4

力学性能

拉力试验机

5

热导率/比热

DSC

热导仪

6

热膨胀系数

热膨胀计

7

表面粗糙度

光学轮廓仪

8

表面粗糙度压电系数相位,薄膜微区

导电分析薄膜力学性能

AFM

9

电阻率绝缘电阻

4PP

10

相对介电常数介电损耗

介电常数测试系统

11

金属金相分析

显微结构分析

金相显微镜

12

显微结构分析

表面成分分析

晶相及比例分析

SEM+EBSD

+EDS

13

TEM制样,样品

截面观察分析

FIB

14

材料(含薄膜)

结晶相分析及相

比例分析

XRD

15

零部件结构尺寸

工业CT

16

三维尺寸

螺旋测微计

17

三维尺寸

光学轮廓仪

18

材料体相或表

面金属元素含量

ICP-OES

19

材料体相或表

面金属元素含量

ICP-MS

20

无机材料体相金

属杂质含量分析

GDMS

21

表面金属元素含量

XRF

22

表面金属元素含量

XPS

23

表面金属元素含量

VPD-ICPMS

24

硅片C,O含量

分析

FTIR

25

ONH ,CS含量

气体元素分析仪

26

灰分测试,试剂烧灼残留分析

灰分炉

27

硅片及薄膜中气体元素分析

TDS

28

无机基团分析(OH-,SO4^2-等)

FTIR

29

耐磨性

磨耗仪

30

耐酸碱腐蚀

密度天平

31

抗析晶分析,零部件耐热冲击

马弗炉

32

金属析出

ICP-MS

33

颗粒析出

颗粒计数器


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联系我们


如有集成电路材料研发、测试验证、计算仿真需求,欢迎联系。


联系人:周老师

邮箱:stella.zhou@sicm.com.cn







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1、网站端:集材检测网

https://www.icmtest.com.cn/

2、小程序:微信公众号搜索“集材检测”即可访问

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